粉體行業在線展覽
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Partica CENTRIFUGE CN-300
直接聯系
HORIBA（中國）
上海
面議
HORIBA
Partica CENTRIFUGE CN-300
5244
離心式粒度分析儀,通過離心進行高分辨率粒度分布測量。
CN-300 的測量范圍為 10 nm - 40 μm，可施加高達 30,000g 的離心力，并使用溫度控制為各種樣品產生準確的測量結果。
根據客戶反饋開發并改進現有和新的 HORIBA 技術，其結果是提供安全可靠的操作，同時也易于使用的分析儀。
實現對未稀釋和稀釋樣品粒徑分布的精確測量
顆粒的粒度是按粒徑大小分類后測量的，這是離心分離法的關鍵特點。因此，一次測量就能得到寬范圍內的高精度結果。CN-300可提供兩種測量方法:“密度梯度模式”和均一模式”。
可捕捉到少量雜質顆粒或團聚體
CN-300因其高分辨率可以捕獲到少量的雜質顆粒。它能讓你在全粒徑分布范圍內獲得可靠的測量結果，包括含量少占比低的顆粒群。
儀器在長時間測量后性能依然穩定
樣品室和轉盤具有冷卻功能，可防止樣品在旋轉過程中溫度升高。通過保持溶劑的粘度恒定提高測量結果的可靠性。CN-300更安靜，操作更簡單安全。
堅固耐用易操作
? 僅需將樣品注入樣品池
? 比色皿式樣品池易清潔、易更換，減少樣品交叉污染的風險。
? 符合國際安全標準 (IEC6101-1/2-020)
高分辨率測量粒徑分布
下圖為離心粒度分析儀測量含有四種相同濃度的二氧化硅標準顆粒的混合樣品的結果，四種不同粒徑顆粒所占面積幾乎相同。因為顆粒按離心力分類，使用密度梯度模式測量可以獲得準確的粒度分布。
樣品：標準顆粒（取0.48 μm、0.73 μm、0.99 μm和1.57 μm標準樣品各一滴后進行混合）
樣品量：10 μL
溶劑：蔗糖溶液
測量條件：密度梯度模式
少量高濃度樣品粒徑分布的測量
離心粒度儀可以測量其他方法難以測量的高濃度樣品，如用于噴墨打印機的未稀釋黑色顏料，并得到高精度的測量結果，所需樣品量僅為2 μL。
樣品:噴墨打印機黑色顏料(未稀釋溶液)
進樣量:2 μL
溶劑:蔗糖溶液測量條件: 密度梯度模式
LA-960
ViewSizer 3000
SZ-100 V2
EMIA-Expert
EMIA-Pro
SZ-100系列
LA-350
FluoroMax -
Fluorolog-3
Aqualog?
XploRA Nano
LabRAM Odyssey
