粉體行業(yè)在線展覽
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Advance Riko ZEM-5
直接聯(lián)系
凱戈納斯儀器商貿(mào)（上海）有限公司
面議
Advance Riko ZEM-5
5475
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評(píng)估半導(dǎo)體、陶瓷、金屬等材料的熱電性能。
ZEM-5 Series塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)量系統(tǒng)可以對(duì)高溫材料，高電阻材料，薄膜材料等多種材料進(jìn)行測(cè)量。
應(yīng)用：
評(píng)估半導(dǎo)體、陶瓷、金屬等材料的熱電性能。
特性：
1. 應(yīng)用于各種材料的特性及特殊規(guī)格的薄膜等；
2. 測(cè)試Si系列(SiGe, MgSi). (HT 型) 的材料的**溫度傳感器是使用C型熱電偶；
3. 標(biāo)配V-I圖自檢測(cè)系統(tǒng)；
4. **測(cè)試溫度1200℃（HT 型）；
5. **測(cè)量電阻10MΩ（HR 型）；
6. 測(cè)量在襯底上的熱電沉積膜（TF 型）；
7. 溫控范圍在-150℃~200℃（LT 型）；
設(shè)備參數(shù)：
型號(hào) | ZEM-5HT | ZEM-5HR | ZEM-5LT | ZEM-5TF |
特點(diǎn) | 高溫 | 高電阻 | 中低溫 | 薄膜 |
溫度范圍 | 100~1200℃ | 50~800℃ | -150~200℃ | 50~500℃ |
工作氣氛 | 低壓He氣 | |||
試樣尺寸 | Square 2-4 mm or φ2-4 mm × 3-15 mm L | 基質(zhì)沉積： 2-4 mm W × 0.4-1.2 mm t × 20 mm L 薄膜厚度：納米級(jí)或更厚 ※試樣和基底之間需要絕緣層； | ||
Seebeck系數(shù)測(cè)量方法 設(shè)備參數(shù)（HT型）
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