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SPTM-1000系統可同時測量二位的塞貝克系數和導熱系數，分辨率可達20μm。

應用：

1. 簡單測量熱電材料的性質；

2. 測量功能梯度材料熱性質分布；

3. 測量無機材料、高分子材料和晶體材料的同質性；

4. 評估材料的缺陷（印刷基板，多層基板等）；

特點：

分辨率可達20um；

使用參照材料可校準熱導率的精度；

設備參數：

實例:

(Bi1-xSbx) ₂Te₃(0.5<x<1) ：塞貝克系數、導熱系數分布、不同組分的塞貝克系數、導熱系數；