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塞貝克系數(shù)/電阻分析系統(tǒng) CTA-3S

鄭重承諾：全球甄選知名供貨商，保證系統(tǒng)品質(zhì)達到**！

堅決不做低價、減配、低品質(zhì)的經(jīng)濟版本和精簡版等系統(tǒng)，維護國內(nèi)用戶的**利益！

熱電材料測試系統(tǒng)CTA-3S系統(tǒng)是在CTA-3系統(tǒng)的基礎上升級性能更加強大的硬件（數(shù)據(jù)采集、變壓器、功率調(diào)控模塊、溫度調(diào)節(jié)器和電磁場屏蔽處理、溫度控制方式等優(yōu)化），提高了溫度場控制精度和測量數(shù)據(jù)的準確性和重復性。

技術特點：

·可控溫場下可同步測量賽貝克系數(shù)和電阻率

·標準配置進口高級商用吉時利（Keithley ）數(shù)采儀表，避免電路板集成數(shù)據(jù)采集技術帶來的干擾誤差

Keithley技術：

100nV rms 噪音本底

直流電壓靈敏度低至 10nV，基本精度為 0.002%（90天）

7ppm DCV 可重復性，基本 1 年 DCV 準確度：0.0028%

**讀取速度范圍：2k 讀數(shù)/秒；

溫度分辨率：0.001℃；

交流電壓分辨率：0.1μV

電阻分辨率：1 μΩ

電流分辨率：1nA

低功耗歐姆測量模式

弱電流電路測試功能

偏置補償歐姆功能

檢定低壓元件又快又準確

提高測量精度的置信度

以低至 100μA 的源電流測量低阻抗，**程度減少設備自發(fā)熱

進行電阻測量時控制測試電壓，避免擊穿可能已形成的任何氧化物或膜

消除會在系統(tǒng)環(huán)境中進行低電平電阻測量時產(chǎn)生錯誤的熱效應

提供更精確的低電阻測量

·標配進口高級商用電流源（ADCMT），非電路板集成恒流源，避免無法精準輸出小電流而產(chǎn)生熱效應和測不準

·恒流源參數(shù)：0.000-220mA；恒流設置分辨率：100nA；恒流穩(wěn)定性：0.008+20nA/天

·溫度范圍：RT up to 1150℃

·光波爐加熱技術，潔凈加熱不污染樣品和無揮發(fā)性，對操作者安全健康；整體水路設計和鍍金處理，無水垢堵塞問題，終身免維護·控溫速率：0.01 –100K/min，可以節(jié)約用戶測試時間

·配置垂直放樣結(jié)構(gòu)，上下樣品支架夾持（三明治），精確控制溫度差

·測量范圍：賽貝克系數(shù)：0.5μV/K-25V/K；電阻率：0.2μOhmm-2.5KOhmm

· 0-80K溫差范圍可任意設置溫差值及溫差點的個數(shù)

· U-I曲線自動掃描，計算出合適的電流數(shù)值，可以精確測量電導率；不會對大電阻樣品產(chǎn)生誤差

·鉑金大電極設計，和樣品可充分接觸，對于不均勻樣品也可獲得良好的導電測試

·熱電偶間距可以根據(jù)樣品尺寸調(diào)節(jié)后固定，滿足不同科研要求

·精度：賽貝克系數(shù)：±7 %；電導系數(shù)：±10 %（熱電材料測試，非康銅標樣）；

·重復性：3%

·高級應用程序控溫技術，包括溫差和測量步進等高級要求

·自由升/降溫、可精確控制溫度程序，進行升溫、恒溫與降溫過程中的數(shù)據(jù)測量

·熱電偶探針可選K、S、R型（無需鎧裝）配置，不會產(chǎn)生非常大的接觸電阻

·自動壓力安全保護設計，進口美國航天級硬件配置，確保測試過程中不會發(fā)生爆炸

·測量系統(tǒng)：柱狀、片狀、長方體、薄膜等系統(tǒng)

技術規(guī)格

應用

1、2018年5月18日，世界**期刊《Science》發(fā)表了北京航空航天大學趙老師等學者在熱電材料硒化錫應用方面的重大研究成果：三維電子/二維聲子實現(xiàn)高ZT。祝賀趙老師課題組和其它合作課題組！

文章內(nèi)容鏈接：

2、2019年9月27日，《Science》雜志在線以全文Article的形式發(fā)表了北京航空航天大學材料科學與工程學院趙立東教授課題組在熱電材料研究上取得的新進展：

《High thermoelectric performance in low-cost SnS0.91Se0.09 crystals》發(fā)現(xiàn)并利用硫化錫（SnS）的多個能帶隨著溫度的演變規(guī)律，通過引入Se優(yōu)化調(diào)控了有效質(zhì)量和遷移率的矛盾，在儲量豐富、成本低廉、環(huán)境友好的SnS晶體材料中實現(xiàn)了高的熱電性能 (Science365 (2019) 1418-1424.)。

該工作通過溫度梯度法合成出 SnS1-xSex 晶體結(jié)構(gòu)，并實現(xiàn)三個分離電子能帶之間相互作用的控制。Se 的引入實現(xiàn)電子傳輸（μ）和有效質(zhì)量（m*）兩大參數(shù)的同時優(yōu)化。300 K 時，PF 值從 30 升至 50 mW cm?1 K?2; 873 K 時，ZT **值和均值分別為 1.6 和 1.25。這種控制策略為優(yōu)化熱電性能提供了一條不同的途徑。開發(fā)高性能SnS晶體是向低成本、地球資源豐富和環(huán)境友好型熱電技術邁進的重要一步。

文獻鏈接：High thermoelectric performance in low-cost SnS0.91Se0.09crystals， 2019， Science， DOI:10.1126/science.aax5123.

以下附件不包含在CTA系統(tǒng)標準配置中，需要用戶選配！

1、薄膜樣品夾具CTA-tff

薄膜樣品夾具CTA-tff由不銹鋼材料精加工和人工手工琢磨打造，采用先進的分體式設計理念，可以對不同長度樣品夾持，可適配不同熱偶間距（4、6、8 mm）；應用順滑螺絲緊固的方法，可以對不同的樣品緊固，由于采用了金屬作為導體接觸電極塊，無需額外的金屬片就可以良好接觸電極導通。夾具可以匹配不同品牌的熱電材料分析系統(tǒng)，方便國內(nèi)用戶的使用和更替。

技術參數(shù)

·夾具材質(zhì)：不銹鋼（其它貴金屬可定制）

·夾持調(diào)節(jié)：分體式

·夾持方式：螺絲緊固

·樣品厚度：≤1.80 mm （包含底襯）

·樣品寬度：≥4.00 mm

·樣品高度：依據(jù)探針熱偶間距（4、6、8 mm）

2、視頻測距系統(tǒng) Vra

在測試熱電材料的性能時，樣品熱偶間距的精確值對電導率測試的準確性非常重要；功率因子直接受電導率影響，進而影響熱電優(yōu)值。

隨著熱偶的使用過程中， 需要不停的打磨熱偶的金屬頭， 熱偶的金屬頭和樣品的接觸點會不停的變化， 眼睛無法精準分辨接觸點的實際位置，如果用游標卡尺去測量這個間距，每個人會得出不同的數(shù)值，那么如何確保測量準確的， 采用視頻法測距是目前*可靠的方法之一。

為此柯銳歐設計了視頻測距系統(tǒng)（Vra），該系統(tǒng)由專業(yè)相機、鏡頭和視頻軟件、背景燈、支架、USB接口等組成， 可以自動快速、準確測量出樣品熱偶的間距，消除人眼測量誤差和實際變化的固定距離帶來的誤差；配合CTA的高級軟件， 可以自動輸入測試實驗參數(shù)欄，方便易用的設計，滿足了CTA用戶的需求。 同時該系統(tǒng)可以配置在其它品牌的熱電測試系統(tǒng)上使用， 為國內(nèi)的熱電材料科研工作者提供服務！