粉體行業在線展覽
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JASCO 公司
日本
面議
1109
圓偏振熒光光譜儀 型號：CPL-300
概要
手性等化合物在單色光激發下，發射出左右圓偏振光強度不同，這樣的現象被叫圓偏振發光現象（CPL）。常規的ECD測量可得到基態手性分子的信息，而CPL能夠測量得到激發態手性物資的信息。
CPL-300使用由Steinberg提出的原始180°熒光收集方法。 標準的無臭氧150W Xe燈可由用戶更換為Hg / Xe源。 儀器的雙棱鏡激發和發射單色器提供非常低的雜散光，并且沒有衍射光柵引起的雜散線性偏振效應。
規格
| 光源 | 150W 空冷氙燈 (選配:150W 空冷Hg-Xe燈等) |
| 檢測器 | 光電子倍增管PMT |
| 調幅器 | 壓電彈性調幅器 |
| 電氣系統 | 鎖定放大器 |
| 單色器 | Ex (激發)Em (發射)部分均為雙棱鏡單色儀 |
| 測量波長范圍 | 250到 850 nm 400 到1100 nm (選配PMT檢測器) |
| 波長精度 | ±0.2 nm (250 to 500 nm) ±0.5 nm (500 to 800 nm) ±1.5 nm (800 to 1100 nm) |
| 波長重現性 | ±0.05 nm (250 to 500 nm) ±0.1 nm (500 to 800 nm) ±0.5 nm (800 to 1100 nm) |
| 狹縫寬度 | 1 - 4000 μm |
| 數字積分時間(D.I.T.) | 0.1 msec to 30 sec |
| 掃描方式 | 連續掃描 步進掃描 自動響應時間掃描 |
| 掃描速度 | **到10000 nm /min |
| 測光模式 | CD (AC電子元件元件 = CPL)，DC (DC 電子元件=熒光)，HT (高電壓f PMT)， and AC/DC |
| CPL分辨率 | 0.00001 mdeg |
| 波長分辨率 | 0.025 nm |
| 雜散光 | 小于0.001% |
| 外部輸入端子 | 雙通道數據采集(輸入范圍: -1 to 1 V DC) |
| 汞燈 | 用于儀器校準 |
| 遮板 | 在EX激發和Em發射單色器 |
| 樣品室 | 150 mm (W) x 310 mm (D) x 165 mm (H) |
| 尺寸 | 2000 mm (W) x 700 mm (D) x 1000 mm (H) |
| 重量 | 180 kg |
| 量程 | ± 8000 mdeg |
| 功率 | 240 V 50/60 Hz， 400 VA |
| 程序軟件包 | Spectra Manager 2 |
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