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產(chǎn)品概述

ATP5105是奧譜天成研制的高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀，它采用2048×64像素的制冷型線性CCD，CCD采用半導體制冷技術(shù)，CCD可工作在設定的恒溫環(huán)境（*低可達-15oC），從而大幅降低了傳感器的噪聲，獲得了**的信噪比（比同類競爭對手提高了約2倍），而且提高了ATP5105的測量可靠性，測量結(jié)果不隨環(huán)境溫度變化。

同時，奧譜天成為ATP5105特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路，其量化噪聲小于3 counts，為業(yè)界**水平。

ATP5105可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光，通過USB2.0或者UART端口，輸出測量所得的光譜數(shù)據(jù)。

ATP5105只需要一個5V直流電源供電，非常便于集成使用。

特點：

• 紫外增強高性能背照式CCD

• 專門針對紫外優(yōu)化的光路和結(jié)構(gòu)；

• 探測器：背照式CCD（制冷至-15 oC）

• 探測器像素：3072

• 超低噪聲CCD信號處理電路

• 光譜范圍: 165-1100 nm

• 光譜分辨率: 0.1-4 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)

• 光路結(jié)構(gòu)：交叉C-T

• 積分時間：2ms-130s

• 供電電源：DC 5V±10% @ <2.3A

• 18 bit， 570KHz A/DConverter

• 光輸入接口：SMA905或自由空間

• 數(shù)據(jù)輸出接口: USB2.0(High speed)或UART

• 20針雙排可編程外擴接口

典型應用：

• 拉曼光譜儀

• 微量、快速分光光度計；

• 光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析

• 透過率、吸光度檢測；

• 反射率檢測；

• 紫外、可見和短波近紅外

• 波長檢測