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儀器簡介：

無論您是想以*快的速度分析成百上千個基體復雜的樣品，還是想要獲得高純試劑中超痕量雜質的*可信結果，安捷倫7700 系列ICP-MS 都能助您滿足當前以及未來的分析需求。

安捷倫7700 系列ICP-MS – ICP-MS 儀器的新面孔–是世界上*小的商品化ICP-MS。作為*暢銷的安捷倫7500 系列ICP-MS的繼承者，7700性能在各方面更勝一籌：分析速度更快、操作更簡便、靈敏度更高、背景噪音更低、消干擾效果更佳、應用面更廣、維護更方便。7700x具有適應多種樣品類型、應用范圍廣泛、性能穩定耐用的特點，是大多數常規實驗室和分析大批量樣品的商業實驗室的**選擇。7700s 則是專為半導體行業應用而設計，具有半導體針對性的強大功能。這兩種型號都具有無可比擬的性能和易于使用的優點，即使您面對的是*棘手的樣品基體，它們都能為您獲取值得信賴的分析結果。

7700系列ICP-MS不但配置了新的軟件平臺，而且在儀器硬件方面也進行了革新設計，包括全新數字控制式射頻匹配的RF發生器和第三代八極桿碰撞/反應池系統(ORS3)。安捷倫7700x ICP-MS 憑借第三代碰撞/ 反應池(ORS3) 為復雜高基體樣品的分析提供了無可比擬的準確性，它革命性地重新定義了碰撞/反應池：僅使用氦氣碰撞即可消除所有可能的質譜干擾！

技術參數：

1. 靈敏度：

低質量數 Li(7):  50 Mcps/ppm；

中質量數 Y(89):  160 Mcps/ppm（7700x)； 240 Mcps/ppm(7700s) ；

(高質量數 Tl(205):  80 Mcps/ppm(7700x)； 120 Mcps/ppm(7700s)；

根據用戶特殊需求，如激光、核工業、半導體材料等應用，可提供超高靈敏度功能

2. 檢測限：

低質量數 Be(9):  0.5 ppt；

中質量數 In(115):  0.1 ppt

高質量數 Bi(209):  0.1 ppt

3. 氧化物干擾: CeO+/Ce+: 1.5 %(7700x)； 3.0 %(7700s)；

4. 雙電荷干擾: Ce2+/Ce+: 3.0 %

5. 同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

6. 質譜范圍：2 - 260 amu；

7 豐度靈敏度

低質量端:  5 x 10-7

高質量端:  1 x 10-7

主要特點：

全球尺寸*小的ICP-MS

靈敏度**的碰撞池-第三代ORS3

**的純 He 氣碰撞池：只用He氣就可以消除所有干擾。

*耐高鹽的ICP-MS: HMI技術（TDS>3%）

***的ICP離子源技術：**的數字控制式諧頻ICP發生器

有機溶劑進樣不熄火！

分析速度*快：ISIS-DS技術

*容易維護和清洗

*強的色譜聯機功能：真正的一體化

功能*多*強的軟件：MassHunter系統，實現實時QA/QC

偏移標示，自動化控制等