粉體行業(yè)在線展覽
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直接聯(lián)系
頂尖科儀（中國）股份有限公司
以色列
面議
545
BeamAnalyzer刀口式光斑分析儀
以色列Duma Optronics公司于1989年成立，是一家專業(yè)從事激光光束自動化測量系統(tǒng)研發(fā)和生產(chǎn)的公司。其生產(chǎn)的光束質(zhì)量分析儀產(chǎn)品類型豐富，功能全面。公司的Beam Analysis光束質(zhì)量分析儀主要有三種類型：CCD類型分析儀（**產(chǎn)品）、亞毫米光束分析儀、刀口法類型分析儀。
-12 bit A/D
-同時高分辨率采樣所有模式
-實時檢測光束質(zhì)量、尺寸和高斯擬合
-實時顯示光束2D/3D圖像
-測量光束的中心、橢圓度和功率
-Excel數(shù)據(jù)存儲，RS232或TCP/IP數(shù)據(jù)傳輸
-可保存快照圖像
主要參數(shù)： | ||
傳感器類型 | Si UV-Si IR IRE | |
光譜范圍 | Si UV-Si IR IRE | 350-1100nm 190-1100nm 800-1800nm 1200-2700nm |
刀片數(shù) | 3（BA3頭） 7（BA7頭） | |
光束尺寸范圍 | BA3-Si和BA3-UV BA7-Si和BA7-UV(橢圓形) BA7-Si和BA7-UV（圓形） BA3-IR3和BA3-IR3-E BA7-IR3和BA7-IR3-E BA3-IR5 BA7-IR5 | 3μm-5mm 15μm-10mm 15μm-9mm 3μm-3mm 15μm-3mm 3μm-5mm 15μm-5mm |
光譜范圍 | >100μm <100μm | 1μm 0.1μm |
光束寬度精確度 | ±2% | |
功率范圍 | Si和UV-Si探頭 InGaAs探頭 | 10μW-1W(有衰減片) 10μW-5mW(無衰減片) |
功率精確度 | Si和UV-Si探頭 InGaAs探頭 | ±5% ±10%0.1μm |
功率分辨率 | 0.1μW | |
位置精確度 | ±15μm | |
位置分辨率 | 1μm | |
飽和度 | Si和UV-Si探頭 | 0.1W/cm2(無衰減片)， 20W/cm2(NG9) |
測量速率 | 5Hz | |
溫度 | 0℃-35℃ | |
PC接口 | USB2.0（PCI可選） | |
TH-F120
BL-GHX-VK
線性壓電納米位移臺MF40-25A
A500
ParticleX TC
觀世
SuperSEM N10
在線濁度計
SLS-LED-80B
SCI300
ZEUS
