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基于Phasics**的四波橫向剪切干涉技術和高質量的InGaAs探測器，提供了一個高的空間分辨率和靈敏度。確保測量紅外鏡頭和短波紅外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光譜范圍從0.4到1.7μm，這種波前傳感器覆蓋可見光、近紅外和短波紅外區域且不需要任何校準直接進行測量。
SID4-Swir 光學器件測量自適應光學
特點：
由于其獨特的**技術技術，Phasics的SID4-Swir波前傳感器具備以下特點：
1.高分辨率：160x128測量點
2.高靈敏密度：整個光譜范圍內相位噪聲低于2nm
3.消色差：0.4-1.7μm（可擴展到2.4μm）
4.緊湊：易于集成
應用：
透鏡測試：SID4 SWIR波前分析儀實時測量光學元件MTF和畸變。適用于光通信，夜視和其他軍事和監視設備。無色差，SID4 SWIR涵蓋所有光通信波長。
激光束測試：SID4 SWIR也可以短波紅外光源，像1.55μm激光器或用于激光導向系統的LED。
SID4-Swir產品參數：
波長范圍 | 0.4-1.74μm（可擴展到2.4μm） |
通光孔徑 | 9.6 x 7.68 mm2 |
空間分辨率 | 60 μm |
采樣點（相位/強度） | 160 x 128 (> 19 000 points) |
相位相對靈敏度 | <2nm RMS |
相位精度 | ~ |
動態范圍 | ~ |
采樣頻率 | 120 fps |
實時分析頻率 | 10 fps (full resolution) |
數據接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 95 x 50 x 58 mm |
重量 | 355g |
