粉體行業(yè)在線展覽
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上海屹持光電技術有限公司
法國
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基于Phasics四波橫向剪切干涉**技術，SID4-HR波前分析儀提供了相位和強度高分辨率（400x300測量點）圖。由于它測量發(fā)散光束不需要中繼鏡頭，簡單對齊即可測試光學元器件。其高分辨率確保結果的重復性。高分辨率還開辟了波前傳感的新用途：等離子體密度測量，相位成像顯微…
SID4-HR 光學器件測量自適應光學
特點：
由于其獨特的**技術，Phasics的SID4-HR波前傳感器具備以下特點：
1.超高分辨率：400x300相位圖
2.直接測量發(fā)散和準直光束
3.從400到1100nm消色差
4.自校準：振動不敏感和容易對齊
5.緊湊，體積小
應用：
由于其分辨率高，SID4-HR波前傳感器提供新的可能性應用：
激光：光束診斷、自適應光學和等離子體表征
光學：精密透鏡測試和表面測量
生物學：定量相位顯微術
SID4-HR產品參數(shù)：
波長范圍 | 400 - 1100 nm |
通光孔徑 | 8.9 x 11.8 mm2 |
空間分辨率 | 29.6 μm |
采樣點（相位/強度） | 300 x 400 (> 120 000 points) |
相位相對靈敏度 | < 2 nm RMS |
相位精度 | 15 nm RMS |
動態(tài)范圍 | > 500 μm |
采樣頻率 | > 10 fps |
實時分析頻率 | > 3 fps (full resolution) |
數(shù)據(jù)接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 54 x 46 x 79 mm |
重量 | ~250 g |
TH-F120
BL-GHX-VK
線性壓電納米位移臺MF40-25A
A500
ParticleX TC
觀世
SuperSEM N10
在線濁度計
SLS-LED-80B
SCI300
ZEUS
