粉體行業在線展覽
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上海屹持光電技術有限公司
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基于Phasics**的四波橫向剪切干涉技術，SID4-Dwir涵蓋了中紅外和遠紅外波段（3-5，8-14μm）。在中波紅外和長波紅外范圍具備高分辨率（160×120個測量點）。非常適合紅外目標與鏡頭測試或紅外激光束測量（CO2，OPO激光…）。
SID4-Dwir 光學器件測量自適應光學
特點：
由于其獨特的**技術技術，Phasics的SID4-Dwir波前傳感器具備以下特點：
1.高分辨率：160x120測量點
2.雙波長測量：3-5，8-14μm中遠紅外
3.消色差：可用于黑體輻射測量
4.高數值孔徑測量：無需外加透鏡
應用：
1.光學測量：SID4-Dwir是表征紅外目標的**工具（熱成像和安全視覺），紅外鏡頭（CO2激光）測量可出給MTF，PSF，以及澤尼克像差。消色差功能可在多波長下測試。
2.激光束測量：如CO2激光或紅外OPO激光光源的特性測量，SID4-Dwir提供了一個全面的光束特性（像差，M2，強度分布，光束參數…）
SID4-Dwir產品參數：
波長范圍 | 3-5和8-14μm |
通光孔徑 | 10.88 x 8.16 mm2 |
空間分辨率 | 68 μm |
采樣點（相位/強度） | 160 x 120 (> 19 000 points) |
相位相對靈敏度 | 75nm RMS |
相位精度 | 25 nm RMS |
動態范圍 | ~ |
采樣頻率 | 50 fps |
實時分析頻率 | 10 fps (full resolution) |
數據接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 85 x 118 x 193 mm |
重量 | ~1.6k g |
