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面議
454
PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測(cè)量儀,PA系列測(cè)量雙折射測(cè)量范圍達(dá)0-130nm,可以測(cè)量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測(cè)量儀以其**技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,獨(dú)有的雙折射算法設(shè)計(jì)制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測(cè)量能力,使其成為業(yè)內(nèi),特別是工業(yè)界雙折射測(cè)量/應(yīng)力測(cè)量的選擇。
操作簡(jiǎn)單,測(cè)量速度可以快到3秒。
視野范圍內(nèi)可一次測(cè)量,測(cè)量范圍廣。
更直觀的全面讀取數(shù)據(jù),無遺漏數(shù)據(jù)點(diǎn)。
具有多種分析功能和測(cè)量結(jié)果的比較。
維護(hù)簡(jiǎn)單,不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。
高達(dá)2056x2464像素的偏振相機(jī)。
應(yīng)用領(lǐng)域:
通信光纖
晶體
項(xiàng)次 | 項(xiàng)目 | 具體參數(shù) |
1 | 輸出項(xiàng)目 | 相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應(yīng)力換算(選配)【MPa】 |
2 | 測(cè)量波長 | 520nm |
3 | 雙折射測(cè)量范圍 | 0-130nm |
4 | 測(cè)量*小分辨率 | 0.001nm |
5 | 測(cè)量重復(fù)精度 | <1nm(西格瑪) |
6 | 視野尺寸 | 142x170um到3.5x4.2mm(×2,×5,×10,×20,×50) |
7 | 選配鏡頭視野 | 無 |
8 | 選配功能 | 實(shí)時(shí)解析軟件,鏡片解析軟件,數(shù)據(jù)處理軟件,實(shí)現(xiàn)外部控制 |
TH-F120
BL-GHX-VK
線性壓電納米位移臺(tái)MF40-25A
A500
ParticleX TC
觀世
SuperSEM N10
在線濁度計(jì)
SLS-LED-80B
SCI300
ZEUS