粉體行業(yè)在線展覽
面議
1383
半導(dǎo)體材料能帶測試,亞帶隙測量系統(tǒng)
該系統(tǒng)采用恒定光電流法分析半導(dǎo)體薄膜和各種光導(dǎo)材料的帶隙結(jié)構(gòu),是評價非晶硅和各種非晶半導(dǎo)體的理想方法。
規(guī)格:
原理:恒流法(CPM)
光源:氙燈或鹵素?zé)?/span>
工作范圍:約4小時,13 - 0.59 ev (300 - 2100 nm)
輻照面積:6 x6mm
輻照強(qiáng)度:2 nw-2mw
TH-F120
BL-GHX-VK
線性壓電納米位移臺MF40-25A
A500
ParticleX TC
觀世
SuperSEM N10
在線濁度計
SLS-LED-80B
SCI300
SJ6000