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一、主要特點

(1)、可對C(6)-Fm(100)(次ppm~100%)進行無損定性、定量分析；

(2)、采用**WAG(Wide Angle Geometry)技術，配備8個二次靶；

(3)、8款管濾光片，更快更精確的測定微量及痕量元素；

(4)、標準配置硅漂移探測器SDD，適于高和低原子序數的元素分析檢測；

(5)、針對輕原子序數元素，可配備分辨率達123eV的SDD LE探測器；

(6)、外型堅固耐用，適于移動實驗室，符合沖擊試驗MIL810E規格；

(7)、檢測光斑可變，適于不同尺寸和形狀的樣品檢測；

(8)、配備集成電腦、專業nEXt™分析軟件，操作方便；

二、二次靶激發技術介紹

二次靶激發技術能**程度的去除散射背景，提高信噪比，降低檢測器的檢測限。如圖，樣品為含少量Cr，Mn，Fe雜質的Ni合金。當直接激發時(綠)，雜質元素的吸收信號被Ni元素的吸收信號淹沒；相反，使用Ni二次靶激發時，雜質元素的吸收信號被大大加強。

三、主要技術參數