粉體行業在線展覽
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C4575-03 X射線條紋相機
C4575-03型X射線條紋相機采用了能實現極高的時間分辨率和空間分辨率的新型X射線條紋管。它能在0.5ps的時間分辨率下探測從10eV到10 keV的X射線。它采用了一個圖像增強器來同時實現高增益（靈敏度）和高空間分辨率。內置的高性能的百萬像素制冷型CCD相機能將條紋圖像保存為數字格式。
詳細參數
| 型號 | C4575-03 |
| 光譜響應范圍 | 10 eV 到 10 keV |
| 掃描單元 | 內置 |
| 時間分辨率 | ＜0.5 ps (計算值) |
| 掃描重復頻率 | Single to 100 Hz max. |
| 動態范圍 | ＞1:10 |
| 掃描時間 | 35 ps 到 2 ns |
| 有效光陰極長度 | 8.6 mm |
特性
?時間分辨率：0.5 ps或更窄半峰寬（FWHW計算值）
?大面積光陰極：8.6 mm
?同步測量時間、位置和光強
應用
?XFEL
?X射線激光器
?X射線等離子體發光
光譜響應
Revontium
Lattice 系列 高功率X射線
N80
VANTA
ScopeX PILOT
逸出功能譜儀
SAXSpoint 700
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
NAOMi-CT 3D-M
