粉體行業(yè)在線展覽
DTSP10-03
5-10萬元
日本ncc
DTSP10-03
15
不限
產(chǎn)品特點
粒徑測量范圍:可對10μm以上的粗大粒子進行分級計量。
粒徑區(qū)分:10μm、30μm、50μm、100μm,11~99μm范圍內(nèi)可以設(shè)定數(shù)值。
晶片尺寸:使用4英寸晶片進行采樣。
最大測試范圍:Ф80mm。
Trimming功能:具備Trimming功能,可進行更精確的測量。
切換顯示:支持區(qū)分表示,可切換顯示不同粒徑范圍的數(shù)據(jù)。
應(yīng)用場景
無塵室監(jiān)測:用于監(jiān)測無塵室中的落塵情況,幫助評估無塵環(huán)境的質(zhì)量。
產(chǎn)品表面污染檢測:可檢測產(chǎn)品表面附著的粗大粒子,有助于提高產(chǎn)品質(zhì)量。
設(shè)備內(nèi)部污染檢測:適用于檢測設(shè)備內(nèi)部附著的塵埃,便于進行清潔和維護。
優(yōu)勢
高精度測量:能夠精確測量10μm以上的粗大粒子,提供可靠的測量數(shù)據(jù)。
多種粒徑區(qū)分:支持多種粒徑范圍的測量,滿足不同應(yīng)用場景的需求。
靈活的采樣方式:使用晶片進行采樣,適用于多種表面和空間的測量。
綜上所述,DTSP10-03落塵計數(shù)器是一款適用于粉體行業(yè),特別是對無塵環(huán)境和產(chǎn)品表面污染檢測有需求的高精度測量設(shè)備。
粒徑測量范圍:可對10μm以上的粗大粒子進行分級計量。
粒徑區(qū)分:10μm、30μm、50μm、100μm,11~99μm范圍內(nèi)可以設(shè)定數(shù)值。
晶片尺寸:使用4英寸晶片進行采樣。
**測試范圍:Ф80mm。
Trimming功能:具備Trimming功能,可進行更精確的測量。
切換顯示:支持區(qū)分表示,可切換顯示不同粒徑范圍的數(shù)據(jù)。
無塵室監(jiān)測:用于監(jiān)測無塵室中的落塵情況,幫助評估無塵環(huán)境的質(zhì)量。
產(chǎn)品表面污染檢測:可檢測產(chǎn)品表面附著的粗大粒子,有助于提高產(chǎn)品質(zhì)量。
設(shè)備內(nèi)部污染檢測:適用于檢測設(shè)備內(nèi)部附著的塵埃,便于進行清潔和維護。
高精度測量:能夠精確測量10μm以上的粗大粒子,提供可靠的測量數(shù)據(jù)。
多種粒徑區(qū)分:支持多種粒徑范圍的測量,滿足不同應(yīng)用場景的需求。
靈活的采樣方式:使用晶片進行采樣,適用于多種表面和空間的測量。
綜上所述,DTSP10-03落塵計數(shù)器是一款適用于粉體行業(yè),特別是對無塵環(huán)境和產(chǎn)品表面污染檢測有需求的高精度測量設(shè)備。
FY-18
ZE
Quantum
Triton
MGI A
UV Arter S
Triton Green
DTSP10-03
ECS -9000
HZ7000系列
HZ-7000系列
syn-8000