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XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于極端環境下的精密測量。它可作為微量天平單獨使用，也可作為完整的吸附分析儀器。XEMIS有著出色的靈活性以及**的稱量精度和穩定性。

• XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema特有的外部感知技術，可在高溫、高壓條件下進行重量吸附分析，也可與其他商業化的吸附微量天平儀器聯用。

產品特點

• 外部感知技術，把敏感元件置于天平室外部，允許腐蝕性和易燃氣體的操作

• 幾何對稱、精密設計的微量天平

• 內部容積*小化

• 大容量微量天平（5克），分辨率0.2μg和長期穩定性±5μg

• 寬動態稱量范圍（0-200毫克）

• 操作壓力高達200bar

• 單獨的反應器可進行從77 K到773 K的全溫度范圍測量

• 無需重新歸零或原位校準

• 采用IGA特有的終點預測方法

• 全金屬結構由高品質的VCR裝配

• 模塊化設計，與所有配件兼容且可升級

產品應用

XEMIS的應用領域:

• 氣體吸附分析

• 等溫線的測定

• 動力學分析

• 熱力學研究

• 儲氫

• 甲烷存儲

• 二氧化碳封存

• 氣體的分離與純化

• 超臨界氣體吸附

• 頁巖氣和煤層沼氣研究

• 離子液體中的氣體溶解度測量

• 化學吸附研究

• 化學反應的研究 (例如 氧化/氮化)

• 金屬有機骨架(MOFs)/多孔配位框架

• 活性炭、碳分子篩和模板碳

• 沸石和沸石類物質

• 多孔聚合物

該XEMIS可廣泛應用于不同的吸附氣體。如有具體要求請與我們聯系。