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BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta 電位儀

BeNano 180 Zeta

直接聯系

丹東百特儀器有限公司

中國丹東

產品規格型號

參考報價：

面議

品牌：

丹東百特

型號：

BeNano 180 Zeta

關注度：

15542

范圍（量程或細度）：

0.0003-10μm*

創新點：

BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta 電位儀--背向散射粒度+Zeta電位二合一型

產品介紹

BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學檢測系統。該系統中集成了背向動態光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。

基本性能指標

粒徑檢測

原理	動態光散射技術
粒徑范圍	0.3 nm – 10 μm
樣品量	40 μL – 1 mL
檢測角度	173 ° + 11.2°
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta電位測試

原理	相位分析光散射技術
Zeta范圍	無實際限制
電泳遷移率范圍	＞±20 μm.cm/V.s
電導率范圍	0 - 260 mS/cm
Zeta測試粒徑范圍	2 nm – 120 μm

分子量測試

分子量范圍

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測試

頻率范圍	0.2 – 1.3 x 10⁷ rad/s
測試能力	均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量

粘度和折光率測試

粘度范圍	0.01 cp – 100 cp
折光率范圍	1.3-1.6

趨勢測試

時間和溫度

系統參數

溫控范圍	-15°C - 110°C ，精度±0.1℃
冷凝控制	干燥空氣或者氮氣
標準激光光源	50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關器	≥25 ns采樣，≤ 4000通道，10¹¹動態線性范圍
檢測器	APD （高性能雪崩光電二極管）
光強控制	0.0001% - 100%，手動或者自動

軟件

中文和英文

符合21CFR Part 11

檢測參數

●顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布

●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

●分子量

●分布系數 PD.I

●擴散系數 D

●流體力學直徑 DH

●顆粒間相互作用力因子 kD

●溶液粘度

檢測技術

●動態光散射

●電泳光散射

●靜態光散射

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