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蔡司雙束電鏡CROSSBEAM系列，是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡。CROSSBEAM系列將場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒強大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束(FIB)出色的加工能力相結合。1，生命科學，如斷層掃描，三維重構
2，電池領域，如原子層組分表征
3，半導體領域，如失效分析，電路修復
4，金屬領域，如界面分析，亞表面分析
5，材料科學，如晶體微觀結構分析，納米圖形化加工
6，透射電鏡、EBSD、微觀力學等多種樣品的原位制備
7，微納加工。