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產品特點

l   適合各種納米材料及薄膜的表面粗糙度或表面形貌測量。

l   無需抽真空，可快速得到測量結果

l   直觀的操作界面

l   一鍵掃描的快速功能

產品概述

    可應用于高解析影像和測量需求，特別是具備次納米級的 Z 軸分辨率。其低噪聲和開回路設計于一體的掃描儀可以快速地針對樣本進行掃描。獨特光像散式的光路模塊提供業界*小的雷射光點，讓用戶可運用于更小且快速的AFM 探針。

    直觀的數據擷取軟件 PSX，只需簡單培訓，即可直接操作。值得一提的是，一鍵掃描功能可自動設定參數并進行掃描，用戶同樣能夠快速獲得高質量的掃描結果。PSX 內置的掃描庫管理功能可以有效地簡化掃描數據的整理，以方便用戶刪除或輸出掃描圖文件。

    **性的光路校準系統---雷射點實時維持在四象限二極管中心，不須另外校正。

    一鍵掃描，運用智能預測算法，輕松點擊按鍵便可進行全自動掃頻、下針、做力圖曲線、以及掃描樣品等相關流程。