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產(chǎn)品概述

20/30 PV顯微分光光度計(jì)是CRAIC技術(shù)公司*強(qiáng)大的顯微分析儀器。為了滿足用戶需求，該定制儀器集成了*前沿的光學(xué)、光譜及軟件開發(fā)技術(shù)以提供**的速度和性能。同時(shí)，被用戶熟知的CRAIC儀器的易用性也有所提升，使得該儀器成為紫外-可見-近紅外顯微光譜學(xué)中的佼佼者。

主要特性

?  光譜范圍：200-2100nm

?  紫外-可見-近紅外透射顯微光譜

?  紫外-可見-近紅外透射成像

?  紫外-可見-近紅外反射顯微光譜

?  紫外-可見-近紅外反射成像

?  紫外-可見-近紅外熒光顯微光譜

?  紫外-可見-近紅外熒光顯微成像

?  拉曼顯微光譜

?  紫外-可見-近紅外范圍內(nèi)的偏振顯微光譜

?  紫外-可見-近紅外范圍內(nèi)的偏振微區(qū)成像

?  薄膜厚度測(cè)量

?  微觀樣品的色度測(cè)量

?  結(jié)合rIQ進(jìn)行折射率的測(cè)量

?  手動(dòng)或全自動(dòng)操作

?  配備Lightblades技術(shù)

?  集成TE制冷陣列探測(cè)器以提供超低噪聲和長期穩(wěn)定性

紫外-可見-近紅外顯微光譜

顯微光譜***中的尖端產(chǎn)品

該儀器是一個(gè)完全集成的顯微光譜單元，光譜范圍包括從紫外到可見到近紅外。可同時(shí)對(duì)采樣孔徑和樣品直接成像從而進(jìn)行快速精確的測(cè)量。20/30 PV搭載Lightblades技術(shù)，即便尺寸在亞微米樣品的透射，反射，偏振，熒光光譜也能測(cè)量。CRAIC Technologies也是美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究所（NIST）可追溯分光光度計(jì)標(biāo)準(zhǔn)**認(rèn)可的來源。