粉體行業在線展覽
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上海泰坦科技股份有限公司
上海
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UV2400系列為小屏幕掃描型比例監測雙光束紫外-可見分光光度計。全新的光學系統和電路系統設計確保儀器具有：高分辨率、低雜散光、持久穩定性和高信噪比。可滿足用戶多層次的分析應用需求。紫外-可見分光光度計計算機應用軟件為您的儀器實現更加強大的功能。
技術參數：
| 型 號 | UV2400/PC |
| 光學系統 | 比例監測雙光束 |
| 光譜帶寬 | 1.8nm |
| 波長范圍 | 190~1100nm |
| 波長準確度 | ±0.3nm |
| 波長重現性 | 0.2nm |
| 光度范圍 | T:0~200.00%T A:-0.301~4.0000Abs C:0~9999 |
| 光度準確度 | ±0.3%T |
| 光度重復性 | 0.1%T |
| 雜散光 | ≤0.05%T(220nm和340nm處) |
| 基線直線性 | ±0.002A |
| 基線漂移 | 0.001A/h(500nm處) |
| 噪聲 | 100%(T)線噪聲≤0.1%(T) 0%(T)線噪聲≤0.05%(T) |
主要特點：
功能
光度測量：定波長測試吸光度、透過率和濃度測量
光譜掃描：掃描速度可選，間隔可選(0.1、0.5、1、2、5nm)，峰/谷自動檢測，圖譜縮放等功能
定量測定：單波長法、一階線性標準曲線擬合，*多可建立9個標樣點的標準曲線
動力學測量(時間掃描)：對樣品進行動力學測試，測試間隔時間可選，可保存1800個測試數據點。
特點
持久的穩定性：比例監測雙光束光學系統，確保儀器長時間的穩定
超低的雜散光：先進的光學系統、低噪聲的電路系統和優質的光學元器件保證儀器具有超低的雜散光，使高濃度樣品測試更準確。
顯示操作人性化設計：大屏幕顯示器顯示數據、圖形、曲線，更直觀，用戶操作簡單方便。
自動比色架：自動八聯池可做更多樣品測定，大大提高了儀器測試速度
燈源更換簡單方便：法蘭盤座式氘燈結構，更換氘燈無需專用工具，免去換燈時光路調試步驟，使儀器調試、維護更加簡單。
豐富的可選附件：多種附件可供選擇，儀器測量范圍更加廣泛。
UV-Solution 3.0工作站軟件，具有各種測試、掃描功能
LUMiFlector
ASD
Zetium
Serstech 100 Indicator
FluoroMax -
N-500
SA5
近紅外光譜分析儀(點擊可看詳細資料)
Metorex C100型
全譜直讀光譜儀
UV9600D
ARL? QUANT'X EDXRF
