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Catalina中階梯光柵光譜儀EMU-120/65

直接聯(lián)系

北京睿光科技有限責(zé)任公司

英國(guó)

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)

參考報(bào)價(jià)：

面議

關(guān)注度：

1060

產(chǎn)品介紹

EMU-120/65是一款能夠兼顧高通光量、高分辨率和寬光譜測(cè)量的中階梯光柵光譜儀，采用數(shù)值孔徑F/3的光學(xué)設(shè)計(jì)，波長(zhǎng)范圍190-1100nm，分辨力60，000（λ/FWHM），并獲得美國(guó)**保護(hù)。EMU-120/65中階梯光柵光譜儀是LIBS、拉曼、OES/AES、光致發(fā)光等測(cè)量的理想工具，相比F/10中階梯光柵光譜儀，靈敏度提高10倍以上。

EMU-120/65的另一大優(yōu)勢(shì)可以選用EMCCD相機(jī)，相比于ICCD相機(jī)具有更高的量子效率、分辨率和幀頻，而且EMCCD相機(jī)不會(huì)輕易被強(qiáng)光損壞，對(duì)使用條件的要求不高。

此外，超低雜散光的光學(xué)設(shè)計(jì)加上軟件控制的雜散光去除算法，使得EMU-120/65成為一款針對(duì)吸收光譜測(cè)量非常強(qiáng)大的儀器。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

- 高通光量F/3

- 光譜分辨力60，000（λ/FWHM）

- 寬光譜范圍190-1100nm（可選400-1700nm）

- 無(wú)需機(jī)械掃描，一次曝光獲得全光譜

- 用戶(hù)可自行更換光柵和入射狹縫，靈活調(diào)整通光量和分辨率

光譜分辨力

EMU-120/65**的光學(xué)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了單個(gè)像素的分辨力。能夠清晰分辨汞Hg的雙峰313.155nm和313.184nm。每個(gè)峰對(duì)應(yīng)一個(gè)CCD像素寬度（8微米），F(xiàn)WHM值0.0049nm ，分辨力63，000。

通光量/收光效率

下圖是EMU中階梯光柵光譜儀（藍(lán)色）和SE 200中階梯光柵光譜儀（紅色）測(cè)量氘/鹵鎢燈的光譜對(duì)比，其中EMU數(shù)值孔徑F/3，SE 200數(shù)值孔徑F/10，兩臺(tái)光譜儀采用相同的光柵、相機(jī)和狹縫。

下圖是鐵元素Fe的LIBS光譜對(duì)比，EMU中階梯光柵光譜儀搭配EMCCD（藍(lán)色），SE 200中階梯光柵光譜儀搭配ICCD（紅色）。

雜散光和散射光

下圖的過(guò)度曝光的HeNe激光線顯示了主要是由光柵引起的小角度散射。散射光被測(cè)量為HeNe峰值強(qiáng)度的一部分，并且它在距離峰值1納米處下降到CCD動(dòng)態(tài)范圍極限以下。EMU-120/65旨在* 大限度地減少受散射影響區(qū)域的雜散光。

產(chǎn)品指標(biāo)：

數(shù)值孔徑	F/3
焦長(zhǎng)	120mm
放大率	0.54
波長(zhǎng)范圍	190-1100nm
散射光	2.0 x 10^-5 @ 1nm HeNe激光
雜散光	2.0 x 10^-6
光纖輸入	SMA接頭
入射狹縫	用戶(hù)可以自行更換不同規(guī)格的狹縫狹縫寬度8-128微米，狹縫高度12-128微米
光譜分辨力	用戶(hù)可以自行更換不同型號(hào)的光柵，不同型號(hào)對(duì)應(yīng)不同的分辨力R HT Series: up to R = 9，500 HR Series: up to R = 12，000 UV Series: up to R = 30，000 IS Series: up to R = 40，000 IX Series: up to R = 60，000