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開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢，表面功函由材料表面*頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界**分辨率的測試系統(tǒng)。

特點 ● **的功函/表面電勢分辨率：1-3meV（2mm探針） ● 與壓電系統(tǒng)相比采用音圈驅(qū)動具有很高的驅(qū)動噪聲抑制 ● 過零信號檢測系統(tǒng)極大的提高了分辨率，信噪比性能**** ● 測試和掃描時探針尖與樣品的高度調(diào)節(jié)功能可得到穩(wěn)定的、可靠的和重復(fù)的結(jié)果 ● 探針參數(shù)全部采用數(shù)字控制

系統(tǒng)參數(shù) ● 2mm and 50μm探針 ● 功函分辨率1-3meV（2mm探針），5-10meV（50μm探針，光學(xué)防震臺） ● 手動高度控制（25.4mm KP 平移） ● 跟蹤系統(tǒng)自動控制樣品和探針距離 ● 過零信號檢測系統(tǒng)抑制寄生電容軟件性能 ● 數(shù)字控制所有開爾文探針參數(shù) ● 簡單的信號優(yōu)化設(shè)置過程 ● 快速測量模式用于跟蹤實時功函變化(1000points/min at ~20meV分辨率)選件 ● 樣品加熱器 Sample Heater

● 可升級至掃描系統(tǒng) ● 可升級至RHC系統(tǒng) ● 表面光電壓模塊SPV020 and SPS030

● 鍍金探針