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掃描電鏡RISE — 拉曼成像與掃描電子聯用顯微鏡（拉曼-SEM）
與TESCAN電鏡聯用的 RISE 顯微鏡
世界首款完全集成的拉曼成像與掃描電子顯微鏡
RISE 顯微鏡是一款新型聯用顯微鏡，它將 SEM 和共聚焦拉曼成像結合在一起。通過 RISE 顯微鏡，可以將超微結構表面特性與分子化合物信息關聯起來。
RISE 顯微鏡將SEM 和alpha300共聚焦拉曼成像顯微鏡的所有功能都融于一臺儀器中：
在拉曼和 SEM 測量之間快速、簡便切換
自動將樣品從一個測量位置移動另一個位置
集成化軟件界面，方便用戶進行測量控制
測量結果關聯與圖像疊加
獨立的SEM 和拉曼成像性能
與ZEISS電鏡聯用的 RISE 顯微鏡
RISE 顯微技術
利用 RISE 顯微鏡，在整個測量程序中，可以將樣品在 SEM 真空室內從一個測量位置自動轉移到另一個位置，從而簡化了工作流程，大大提高了儀器的易用性。
掃描電鏡RISE應用實例
倉鼠腦組織切片的拉曼-SEM疊加圖像。彩色編碼的拉曼圖像：綠色：腦白質；紅色：腦灰質；掃描范圍:100 x 100 μm，300 x 300 像素 = 90，000 光譜，每光譜測量時間 50 ms。
砷化鎵 (GaAs) 樣品的拉曼-SEM疊加圖像。彩色編碼的拉曼圖像：黃色：金基底；紅色：GaAs；藍色：生產殘留物；掃描范圍:50 x 50 μm，300 x 300 像素 = 90，000 光譜，每光譜測量時間 34 ms。
PMMA-PS 共混聚合物的拉曼-SEM疊加圖像。 彩色編碼的拉曼圖像：綠色：聚苯乙烯；紅色：聚甲基丙烯酸甲酯。
RISE 顯微鏡與地質樣品的 EDX 同區域對應分析。左：疊加的 SEM-EDX 圖像：可以區分三種不同元素組（橙色：Si、O；紫色：Si、Al、Fe、Ca；綠色：Na）。中間：同一樣品區的拉曼-SEM疊加圖像，呈現分子化合物的空間分布。右：相應的拉曼光譜。紅色：綠簾石；綠色：石英；棕色：斜長石（鈉長石）；額外其他分子化合物。
掃描電鏡RISE主要特點
l 掃描電鏡可以對樣品進行各種各樣的分析，而RISE技術把拉曼與電鏡結合起來，使在電鏡內部直接分析樣品的化學組分成為了可能
l 共聚焦拉曼顯微鏡
l WITec的RISE共聚焦拉曼成像擁有電鏡拉曼聯用市場上**的成像速度，成像靈敏度及成像空間分辨率
l 拉曼光譜成像：連續掃描的拉曼高光譜全譜成像，每個樣品點都能獲得完整的拉曼光譜
l 平面2D和包含深度Z方向的3D成像模式
l 532激發的拉曼mapping可獲得400nm的水平方向空間分辨率
l 532激發的拉曼mapping可獲得900nm的豎直方向空間分辨率
l 超高光通量的透鏡式光譜儀可獲得**的光譜靈敏度及光譜分辨率性能
l 超快拉曼成像選項可達到每張光譜0.76ms的超快采譜速度
l 非破壞性成像技術，無需對樣品進行染色或者標記
RISE 顯微技術是您的**選擇
對于入門操作者來說：簡易的操作流程讓您更容易上手
對于有經驗的操作者來說：在一臺設備上同事實現原位的電鏡拉曼聯用圖像，可以讓用戶獲得更多的樣品信息
掃描電鏡RISE適用領域：材料科學，納米技術，高分子科學，地質學，生命科學，制藥業
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