粉體行業在線展覽
掃描電子顯微鏡 SEM3100
面議
國儀量子
掃描電子顯微鏡 SEM3100
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SEM3100具有出色的成像質量和豐富的擴展性,將鎢燈絲掃描電子顯微鏡的可用性、易用性發揮到**。分辨率可達3 nm,超大樣品倉,可容納**直徑為370 mm的樣品,以及諸多細節功能設計和特色功能,助您在顯微成像的世界中盡情探索。
SEM3100是一款高性能的掃描電子顯微鏡,擁有超高的分辨率和出色的成像質量。放大倍率連續可調,在不同的視場范圍下均可得到高亮度的清晰圖像。大景深,成像富有立體感。配備的超大樣品倉和低電壓模式,極大地擴展了SEM3100的應用范圍。
3 nm @ 30kV, SE
1~300,000 x (底片倍率)
1~1000,000 x (屏幕倍率)
**像素,6144 x 4096
1 kV ~ 30 kV
直徑370 mm,高73 mm
雞葡萄球菌
陶瓷結構件
銀粉
毛發,加速電壓3 kV
滌綸表面,加速電壓1 kV
纖維管表面缺陷,加速電壓1 kV
超大樣品倉
螺絲釘
場發射掃描電鏡 SEM5000
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Quattro-
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略
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