粉體行業(yè)在線展覽
面議
1231
一、概述
SE-Vi是一款集成式原位光譜橢偏儀,針對有機/無機鍍 膜工藝研究的需要開發(fā)的原位薄膜在線監(jiān)測中的定制化 開發(fā),快速實現(xiàn)光學(xué)薄膜原位表征分析。 |
二、測試案例
實時監(jiān)測成膜工藝
實時膜厚表征
三、產(chǎn)品應(yīng)用
■ 廣泛應(yīng)用于金屬薄膜、有機薄膜、無機薄膜的物理/化學(xué)氣相沉積,ALD沉積等光學(xué)薄膜工藝過程中實際原位在線監(jiān)測并實時反饋測量物性數(shù)據(jù)。
TH-F120
BL-GHX-VK
線性壓電納米位移臺MF40-25A
A500
ParticleX TC
觀世
SuperSEM N10
在線濁度計
SLS-LED-80B
SCI300
SJ6000