粉體行業在線展覽
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上海屹持光電技術有限公司
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基于Phasics四波橫向剪切干涉**技術，SID4波前分析儀具備了很高的的相位和強度分辨率（160x120測量點），且使用簡便。
SID4-HR 光學器件測量自適應光學
特點：
由于其獨特的**技術技術，Phasics的SID4波前傳感器具備以下特點：
1.超高分辨率：160x120測量點
2.直接測量發散和準直光束
3.從400到1100nm消色差
4.自校準：振動不敏感和容易對齊
5.緊湊，體積小
應用：
SID4波前傳感器提供新的可能性應用：
激光：光束診斷、自適應光學
光學：精密透鏡測試和表面測量
生物學：顯微自適應光學
SID4產品參數：
波長范圍 | 400 - 1100 nm |
通光孔徑 | 3.6 x 4.8 mm2 |
空間分辨率 | 29.6 μm |
采樣點（相位/強度） | 160 x 120 (> 19 000 points) |
相位相對靈敏度 | < 2 nm RMS |
相位精度 | 10 nm RMS |
動態范圍 | > 100 μm |
采樣頻率 | > 100 fps |
實時分析頻率 | > 10 fps (full resolution) |
數據接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 54 x 46 x 75.3 mm |
重量 | ~250 g |
