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本系統可以測試半導體材料或其他發光特性材料在激光激發下產生的熒光光譜。通常情況下采用紫外或近紫外激光激發半導體材料（如GaN、Zno、CdTe 等）產生熒光；或用可見、紅外激光器激發稀土參雜的玻璃或晶體材料產生的熒光，通過對其熒光光譜的測量，分析材料能帶結果等特征。

技術指標

• 光譜范圍：200-2500nm (可根據實際需要選擇）
• 波長準確度：±0.2nm
• 光譜分辨率：±0.1nm
• 光譜帶寬：0.2-10nm 可調
• 光源波長：224nm、248nm、266nm、325nm、488nm、532nm、946nm、1946nm等可選
• 可升級做透射、反射光譜測試