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薄膜相變分析儀是一款對相變材料相變特性進行測量與分析的精密光電儀器，可通過自動測量分析薄膜或者粉體等相變材料的熱滯回線、相變溫度、熱滯寬度、相變幅度等特性參數(shù)。

先進的模塊化設計理念、精密的光探針技術、高端的進口芯片、便捷的自動測試分析軟件、以及時尚的外觀，使該儀器成為二氧化釩等相變材料研究的不二選擇。中國科學院廣州能源研究所，深圳大學等單位為典型用戶。

薄膜相變分析儀

技術特點：

1、精密光學測量技術，可進行單層、多層和超小樣品的測量，且靈敏度更高

2、非接觸式信號采集，避免了接觸式探針測量對樣品的損傷和不穩(wěn)定性缺點

3、先進的光探針技術，使得采樣范圍*小直徑可達300微米

4、全自動一-鍵測量，操作簡單，省時、省事

5、超高采樣速率1測量快速、準確，工作效率高

6、觸摸屏操作與電腦操作兩種模式，測量隨心所欲

7、升溫速率無級可調(diào)，根據(jù)實際需求任意選擇

8、與DSC測量相比，具有超高性價比

9、科研型與基礎型，滿足不同需求

技術規(guī)格

1、儀器型號PTM1700

2、工作波長1550nm (特殊需要波長可定制)

3、樣品臺溫度范圍:室溫~120°C，溫度精度+0.1°C

4、采樣頻率1Hz

5、*小采樣范圍直徑300um

6、紅外非接觸測溫模式

7、自然冷卻與風冷兩種降溫模式

8、加熱速率無級可調(diào)

9、設定參數(shù)后自動測量出薄膜相變的熱滯回線

10、USB2.0高速數(shù)據(jù)接口

11、測試分析軟件可得到相變溫度、熱滯寬度等特性參數(shù)

12.可以Exce形式導出各原始測試數(shù)據(jù)和分析數(shù)據(jù)，以word形式導出測試分析報告