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■ 聚合物的組成分布

msRepeatFinder 結合 Kendrick Mass Defect (KMD) 和 Kendrick Mass Remainder (KMR)可可視化具有不同端基的均聚物的組成分布。并可以針對每個聚合物系列進行分組與顏色編碼，計算分子量分布相關的參數。
 

▼ 具有不同端基的聚環氧乙烷混合物的KMD、KMR質譜圖

 

■ 聚合物成分的元素組成分析

指定圖譜上的兩個訊號峰，其聚合度相差 1 的兩種分子種類，即可以推估單體和端基的元素組成。
 

■ 2個樣品間的差異分析

在聚合物分析中，有很多情況需要比較兩個樣品，例如聚合物劣化分析(deterioration analysis)和批次間差異比較。例如下方為聚合物劣化前與劣化后的圖譜(下圖左)，但單純透過迭加KMD圖(下圖右)，很難直觀地區別兩者的差異。
 

而msRepeatFinder則可以實現面對這樣難以區別的差異分析功能，我們可從由每個樣品中取3張質譜圖進行了分析(n=3)。將總離子強度歸一化(normalized)并顯示差異(下圖左側)。劣化前的占多數的離子以紅色顯示，劣化后的占多數的離子以綠色顯示。并可創建一個火山圖（下圖右側）并僅選擇在火山圖上具有統計顯著差異的離子，并將它們顯示在 KMD 圖中。差異分析功能可以選擇性地可視化在劣化前后具有顯著差異的聚合物系列。
 

■ 凝膠滲透色譜(GPC)與高質量準確度 MALDI-TOFMS 相結合

為了分析高分散度的聚合物，將 GPC 與高質量準確度 MALDI-TOFMS 相結合是有效的。 此過程在 Kendrick 剩余質量 (RKM) 圖中顯示多個餾分的質譜，以直觀地呈現組成分布。
 

■ 不同端基聚合物的 MS/MS 結構分析

高能碰撞誘導解離是 MALDI-TOF-TOF 特有的碎裂方法，可有效獲取各種結構信息。 RKM 圖可以可視化端基組成的差異。
 

▼ 不同端基聚環氧乙烷的產物離子圖譜




▼ 3個產物離子譜的迭加RKM圖

 

■ 共聚物(copolymer)分析

在共聚物的質譜數據中，通常會觀察到許多質量差異很小的峰。
與傳統的KMD圖相比，Fraction base KMD 圖可以清楚地顯示此類峰。
 

▼ EO-PO嵌段共聚物的質譜圖




▼ KMD 圖(左) / Fraction base KMD 圖(右)

 

■ 使用場脫附(FD)進行聚合物分析

在JEOL T200GC/T2000GC TOF中，FD場脫附游離分析聚合物，隨著流向發射器的電流增加，要離子化脫附的聚合物類型會隨時間變化。在 KMD繪圖中，可以迭加隨時間分離的聚合物，可視化樣品中含有的聚合物。
 

▼ 聚環氧丙烷和聚苯乙烯混合物的分析