粉體行業在線展覽
檢測和分析 Si℃ 外延中的表面缺陷和晶體缺陷
面議
中科匯珠
檢測和分析 Si℃ 外延中的表面缺陷和晶體缺陷
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技術參數:
1)微分干涉鏡頭:532 nm波段光源
2)暗場鏡頭:457nm波段光源
3)PL鏡頭:313波段光源
4)PLX鏡頭:355波段光源
5)自動聚焦測量范圍:+1.5mm
6)XYZ平臺:移動范圍550*400*5(XYZ),重復定位精度0.1um,測量精度:±0.5um
7)重復性:CV<5%
8)致命缺陷測試準確性:>95%
電腦組合體系VG42
UNI800C多物料配料控制儀
在線HPXRF檢測設備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統
金屬稱重檢測一體機
BSD-PB(氣液法)
片式電容四參數測試機
0~10%糖度
三路浮子流量計 MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀
GJT-2F系列金屬探測儀