粉體行業在線展覽
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上海瞬渺光電技術有限公司
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1025
少子壽命測量儀BCT-400
BCT-400測量系統不需要做表面鈍化就能直接測量單晶和多晶硅（錠或塊）的少子壽命.
因為少子壽命作為衡量生長和缺陷含量的的*敏感的技術參數，這個工具直接獲得長硅的質量參數。
作為*易于使用的測量工具－－BLS，只需要有直徑150mm大小的平面。如果只是測量平面樣品的話，請選擇BCT-400。
XRD-晶向定位
CVD 真空化學氣相沉積設備
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定制-電漿輔助化學氣相沉積系統-詳情15345079037
