粉體行業在線展覽
半導體芯片老化和邏輯測試系統
面議
上海翱晶
半導體芯片老化和邏輯測試系統
712
生產廠家:Aehr Test Systems
從工藝到生產的解決方案:
FOX-CP Single Wafer Stepping Test & Burn-In System
FOX-NP Dual WaferPak & Dual DiePak Test & Burn-In System
FOX-XP Multi WaferPak & Multi DiePak Test & Burn-In System
FOX-P WaferPak Contactors
FOX-P DiePak Carrier
電腦組合體系VG42
UNI800C多物料配料控制儀
在線HPXRF檢測設備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統
金屬稱重檢測一體機
BSD-PB(氣液法)
片式電容四參數測試機
0~10%糖度
三路浮子流量計 MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀
GJT-2F系列金屬探測儀